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產(chǎn)品簡介
、HAD-JDC概述：   HAD-JDC型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前內(nèi)的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項*。雙掃描 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
產(chǎn)品分類
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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 型號：HAD-JDC
、HAD-JDC概述：
HAD-JDC型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前內(nèi)的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項*。
雙掃描 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的葆真，頻率的、幅度的穩(wěn)定。
計算機自動修正和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、HAD-JDC介質(zhì)損耗測試儀主要性：
Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段（ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字
三、HAD-JDC夾具作性
1.平板電容器：
片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選
片間距可調(diào)范圍： ≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率： 0.001mm
四、HAD-JDC配置：
主機 臺
電感 九支
夾具 套
液體杯 套
隨機文件套
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